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触摸屏互感器现场试验装置的数据分析

更新时间:2022-01-24 点击量:501

触摸屏互感器现场试验装置的数据分析一.设计用途

设计用于对保护类、计量类CT/PT进行自动测试,适用于实验室也适用于现场检测。

触摸屏互感器现场试验装置的数据分析二.参考标准

GB 1207-2006、GB 1208-2006

触摸屏互感器现场试验装置的数据分析三.主要特征

• 支持检测CT和PT

• 满足 GB1207、GB1208等规程要求.

无需外接其它辅助设备,单机即可完成所有检测项目.

• 自带微型快速打印机、可直接现场打印测试结果.

• 操作简便,带有智能提示,使用户更易上手操作。.

• 大屏幕液晶,图形化显示接口.

• 按规程自动给出CT/PT(励磁)拐点值.

• 自动给出5%和10%误差曲线.

• 可保存3000组测试资料,掉电后不丢失.

• 支持U盘转存资料,可以通过标准的PC进行读取,并生成WORD报告.

• 小巧轻便≤22Kg,非常利于现场测试.

触摸屏互感器现场试验装置的数据分析四.测试仪主要测试功能:(见表1)

CT(保护类、计量类)

PT

• 伏安特性(励磁特性)曲线

• 伏安特性(励磁特性)曲线

• 自动给出拐点值

• 自动给出拐点值

• 自动给出5%和10%的误差曲线

• 变比测量

• 变比测量(电压法电流法兼容)

• 极性判断

• 比差测量

• 比差测量

• 相位(角差)测量

• 相位(角差)测量

• 极性判断

• 交流耐压测试

• 一次通流测试

• 二次负荷测试

• 交流耐压测试

• 二次绕组测试

• 二次负荷测试

• 铁心退磁

•二次绕组测试


• 铁心退磁


表1

触摸屏互感器现场试验装置的数据分析五. 测试仪主要技术参数: (见表2)

项    目

参    数

工作电源

AC220V±10% 、50Hz

设备输出

0~2500Vrms, rms(20A峰值)

注:0~为真实值,大于~20A为计算值

大电流输出

0~600A

励磁精度

≤0.5%(0.2%*读数+0.3%*量程)

二次绕组

电阻测量

范围

0.1~300Ω

精度

≤0.5%(0.2%*读数+0.3%*量程)

二次实际

负荷测量

范围

5~500VA

精度

≤0.5%(0.2%*读数+0.3%*量程)±0.1VA

相位测量

(角差)

精度

4min

分辨率

0.1min

比差

精度

0.05%

CT

变比测量

范围

≤25000A/(5000A/1A)

精度

≤0.5%

PT

变比测量

范围

≤500KV

精度

≤0.5%

工作环境

温度:-10℃ ~ 40℃,湿度:≤90%,海拔高度:≤1000m

尺寸、重量

尺寸:410mm × 260mm × 340mm ,  重量:≤22Kg

表2

5.1.工作条件要求

输入电压 220Vac±10%、额定频率 50Hz;

测试仪应该由带有保护接地的电源插座供电。如果保护地的连接有问题,或者电源没有对地的隔离连接,仍然可以使用测试仪,但是我们不保证安全;

参数对应的环境温度是23℃±5℃;

保证值在出厂校验后一年内有效。

数据分析

  CT伏安特性测试仪通过许多供电局、发电厂、矿业、钢铁业、铝业、互感器厂的现场使用,验证了CT伏安特性测试仪的稳定性、抗干扰性、方便性、*性、功能完整性确实在同类产品中,得到广大电力用户的肯定与赞扬。上海徐吉电气有限公司为您提供的CT伏安特性测试仪不仅仅是电力试验仪器,而且是您试验、测试、研究的人情化的得力助手。

  CT伏安特性测试仪不仅能完成电流互感器CT的测试项目,而且能完成电压互感器PT的测试项目;不仅包括了通用互感器测试仪的所有测试项目,而且能测试互感器的角差、比差,使其成为真正的CT伏安特性测试仪,这是其他厂家CT伏安特性测试仪*的。

  CT伏安特性测试仪的数据分析:

  1CT伏安特性测试仪10%误差曲线校核:只对继电保护有要求的CT二次绕组进行,一般对差动保护用CT伏安特性测试仪要求必须满足10%误差曲线要求。

  2CT伏安特性测试仪测得的伏安特性曲线与出厂的伏安特性曲线或zui近的测量伏安特性曲线比较,拐点电压不应有显著降低。若有显著降低,应检查二次绕组是否存在匝间短路。

  3、当CT伏安特性测试仪工作在正常伏安特性曲线的线性非饱和区域时,所测电流包括CT伏安特性测试仪的励磁电流Ie及流过CT直阻的电流I2两部分,在此区域随着所加电压的增加,流过CT直阻的电流I2随之升高,CT伏安特性测试仪的励磁电流Ie随之升高,因I1=Ie+I2,所以测量电流I1随之升高。

  4、当CT伏安特性测试仪工作在铁芯饱和区域时,所测电流包括CT伏安特性测试仪的励磁电流Ie及流过CT直阻的电流I2两部分,在此区域随着所加电压的略微增加,流过CT直阻的电流I2随之升高非常缓慢,CT的励磁电流Ie随之快速升高,因I1=Ie+I2,所以测量电流I1随之快速升高,这是因为当铁芯饱和时,大量电流损耗于铁芯发热上,由于CT直阻与CT二次绕组匝数有关,当发生CT二次绕组匝间短路故障时,造成CT直阻R降低,在CT铁芯饱和电流不变的情况下,拐点电压U=I2*R,从而在CT伏安特性测试仪曲线上表现为拐点电压U明显降低,据此初步判断CT二次绕组有异常。

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